Report describes design, characteristics, and performance of Si:Sb integrated array of infrared detectors, sensitivity of which extends to wavelength of about 31 micrometer, improvement over 28-micrometer limit of current Si:As impurity-band-conduction devices. Also describes electronics and special Dewar system developed to test device at low temperature to reduce background noise.


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    Titel :

    Performance Of Infrared-Detector Array


    Beteiligte:
    Goebel, J. H. (Autor:in) / Mckelvey, M. E. (Autor:in) / Mccreight, C. R. (Autor:in) / Anderson, G. M. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.02.1988



    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch