Document summarizes 15 studies of single-event upsets covering 60 different types of semiconductor devices. Studies discussed in document include verification of basic reactions induced by heavy ions and protons and surveys of latchup and bit-flip susceptibility of several types of devices and device-fabrication technologies.


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    Titel :

    Single-Event-Upset Studies: A Compilation


    Beteiligte:
    Nichols, D. K. (Autor:in) / Price, W. E. (Autor:in) / Malone, C. J. (Autor:in) / Smith, L. S. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.1986



    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch




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