Mathematical models represent single-event upset in bipolar memory chips. Physics of single-event upset in integrated circuits discussed in theoretical paper. Pair of companion reports present mathematical models to predict critical charges for producing single-event upset in bipolar randomaccess memory (RAM) chips.


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    Titel :

    Modeling "Soft" Errors in Bipolar Integrated Circuits


    Beteiligte:
    Zoutendyk, J. (Autor:in) / Benumof, R. (Autor:in) / Vonroos, O. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    1985-10-01



    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch