Algorithm specifies sequence of input test signals and interpretation of resulting output signals for identifying stuck-open faults in complementary metal-oxide semiconductor (CMOS) integrated logic circuits. Incorporated in software for online production testing of CMOS circuits.


    Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Finding Open Faults In CMOS Circuits


    Beteiligte:

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.11.1984



    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch




    Shipbuilding Finding faults

    Online Contents | 2010



    Finding faults and engineering for earthquake survival

    Lama, Patrick J. | Online Contents | 1994


    Bridging Faults in BiCMOS Circuits

    Menon, S. / Malaiya, Y. / Jayasumana, A. et al. | British Library Conference Proceedings | 1993


    Latchup in CMOS Integrated Circuits

    Soliman, K. A. / Nichols, D. K. | NTRS | 1985