Computer controlled device can check typical medium scale unit in less than one minute. System scans integrated circuit chip with narrow beam of light while simultaneously scanning reference chip.


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    Titel :

    Optical integrated-circuit tester


    Beteiligte:
    Micka, E. A. (Autor:in) / Reynolds, R. K. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.06.1977



    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch


    Schlagwörter :



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