Contents include the following: NASA Missions - implications to reliability and radiation constraints. Approach to Insertion of New Technologies Technology Knowledge-base development. Technology model/tool development and validation. Summary comments.


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    Titel :

    Risk Management of New Microelectronics for NASA: Radiation Knowledge-base


    Beteiligte:
    K. A. LaBel (Autor:in)

    Erscheinungsdatum :

    2004


    Format / Umfang :

    10 pages


    Medientyp :

    Report


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch






    Update on NASA Microelectronics Activities

    Label, Kenneth A. / Sampson, Michael J. / Casey, Megan et al. | NTRS | 2017


    Update on NASA Microelectronics Activities

    K. A. Label / M. J. Sampson / M. Casey et al. | NTIS | 2017