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    Titel :

    Utilizing Focused Ion Beam (FIB) and Transmission Electron Microscopy (TEM) for Failure Analysis of Char Deposits Obtained from Space Shuttle Columbia Window Debris


    Beteiligte:
    M. C. Wright (Autor:in) / S. McDaniels (Autor:in) / R. Christoffersen (Autor:in) / Z. Rahman (Autor:in)

    Erscheinungsdatum :

    2011


    Format / Umfang :

    23 pages


    Medientyp :

    Report


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch