Hoch genaue Erfassung und Vermessung von Oberflächen ist eine ständige Anforderung an Konstruktions- und Fertigungs-, Wartungs- und Instandhaltungsprozesse der Industrie. Deflektometrie wird als hierzu geeignete neue Methode vorgestellt. Durch Erfassung der Phasenverschiebung reflektierten Lichts kann auf die Beschaffenheit der reflektierenden Oberfläche geschlossen werden, wenn ein bekanntes Wellenprofil des Ausgangslichts bekannt ist. Da nicht der Lichtweg, sondern die Lichtablenkung erfasst wird, sind mittels der Messergebnisse sogar Oberflächenberechnungen oder Brechkraftberechnungen realisierbar. Die Methode wurde für verschiedene Einsatzszenarien erprobt und hat sich als sehr genau und robust erwiesen. Es wird erwartet, dass dadurch auf längere Sicht viele taktile oder relativ teure interferometrische Messverfahren abgelöst werden könnten.
Deflektometrie macht der Interferometrie Konkurrenz
Deflectometry rivals interferometry
tm - Technisches Messen ; 76 , 4 ; 175-181
2009-01-01
7 pages
Aufsatz (Zeitschrift)
Deutsch
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