Hoch genaue Erfassung und Vermessung von Oberflächen ist eine ständige Anforderung an Konstruktions- und Fertigungs-, Wartungs- und Instandhaltungsprozesse der Industrie. Deflektometrie wird als hierzu geeignete neue Methode vorgestellt. Durch Erfassung der Phasenverschiebung reflektierten Lichts kann auf die Beschaffenheit der reflektierenden Oberfläche geschlossen werden, wenn ein bekanntes Wellenprofil des Ausgangslichts bekannt ist. Da nicht der Lichtweg, sondern die Lichtablenkung erfasst wird, sind mittels der Messergebnisse sogar Oberflächenberechnungen oder Brechkraftberechnungen realisierbar. Die Methode wurde für verschiedene Einsatzszenarien erprobt und hat sich als sehr genau und robust erwiesen. Es wird erwartet, dass dadurch auf längere Sicht viele taktile oder relativ teure interferometrische Messverfahren abgelöst werden könnten.


    Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Deflektometrie macht der Interferometrie Konkurrenz


    Weitere Titelangaben:

    Deflectometry rivals interferometry



    Erschienen in:

    tm - Technisches Messen ; 76 , 4 ; 175-181


    Erscheinungsdatum :

    2009-01-01


    Format / Umfang :

    7 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Deutsch




    Beschreibung topografischer Defekte - Deflektometrie zur Inspektion spiegelnder Oberflaechen

    Heizmann,M. / Werling,S. / Fraunhofer Inst.f.Optronik,Systemtechnik u.Bildauswertung,IOSB,Karlsruhe,DE | Kraftfahrwesen | 2012


    "Baltic Bridge" macht Fähren Konkurrenz

    Wörnlein, Peter | IuD Bahn | 2003



    CISC-MCU von Renesas macht ARM Konkurrenz

    British Library Online Contents | 2011


    Holographische Interferometrie

    Marwitz,M. / Daimler-Benz,Stuttgart,DE | Kraftfahrwesen | 1991