Technology status and qualification test results are discussed on two new deep submicron radiation hardened devices including a 64Mb SRAM family and stacked MCM versions of the C-RAM non-volatile memory. Electrical characterization and radiation test results will be discussed.


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    Titel :

    Advanced memory technologies for space and missile systems applications


    Beteiligte:
    Doyle, Scott (Autor:in) / Ross, Jason (Autor:in) / Sturcken, Keith (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.03.2012


    Format / Umfang :

    759798 byte





    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch