We developed a large phase shift-thick sample Z-scan theory, which is applicable to a range of sample thickness from thin sample limit to the thick sample regime and all the range of nonlinear phase shifts.


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    Titel :

    Large phase shift Z-scan analysis for thick Kerr medium


    Beteiligte:
    Kwak, C.H. (Autor:in) / Lee, S.J. (Autor:in) / Lee, Y.L. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2003


    Format / Umfang :

    55978 byte




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch



    Large phase shift z-scan analysis for thick Kerr medium

    Kwak, C. H. / Lee, S. J. / Lee, Y. L. et al. | British Library Conference Proceedings | 2003


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