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    Titel :

    Scanning probe microscopy for x-ray optics examination


    Beteiligte:
    Yu, J. (Autor:in) / Cao, I.L. (Autor:in) / Namba, Y. (Autor:in) / Ma, Y.Y. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    1995-01-01


    Format / Umfang :

    161124 byte




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch



    Ultrafast Scanning Probe Microscopy

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society / IEEE; Microwave Theory and Techniques Society | British Library Conference Proceedings | 1993


    Ultrafast Scanning Probe Microscopy

    Weiss, S. / Ogletree, D.F. / Salmeron, M. et al. | IEEE | 1993


    Scanning probe microscopy for energy research

    Bonnell, Dawn A. ;Kalinin, Sergei V. | TIBKAT | 2013


    Progress in Ultrafast Scanning Probe Microscopy

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1994