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    Titel :

    Measurement Of New Millimeterwave Devices And Components Using Picosecond Techniques


    Beteiligte:
    Fetterman, H.R. (Autor:in) / Martin, M. (Autor:in) / Oshita, F. (Autor:in) / Plant, D.V. (Autor:in) / Kain, A.Z. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.1993


    Format / Umfang :

    132975 byte




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch



    Measurement of New Millimeterwave Devices and Components Using Picosecond Techniques

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society / IEEE; Microwave Theory and Techniques Society | British Library Conference Proceedings | 1993


    Millimeterwave tests on passive components of PLANCK-LFI

    Simonetto, A. / D'Arcangelo, O. / Figini, L. et al. | IEEE | 2004


    Zoom FFT for millimeterwave additive noise measurement

    Carter, T. / Pergande, A. / DeLisio, M. | IEEE | 2004


    Semiconductor Millimeterwave Spectroscopy

    Kania, P. / Kolesnikov, L. / Koubek, J. et al. | IEEE | 2006


    Millimeterwave monolithic integrated mixer

    Gao Baoxin / Gong Ke / Sun Yingxin et al. | IEEE | 1996