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    Titel :

    Measurement of New Millimeterwave Devices and Components Using Picosecond Techniques



    Kongress:

    Summer topical meeting, Optical microwave interactions ; 1993 ; Santa Barbara; CA


    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.1993


    Format / Umfang :

    2 pages


    Anmerkungen:

    Shelved at "Leos 1993 Summer topical meeting digest on optical microwave interactions" IEEE cat no 93TH0549-6



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Measurement Of New Millimeterwave Devices And Components Using Picosecond Techniques

    Fetterman, H.R. / Martin, M. / Oshita, F. et al. | IEEE | 1993


    Millimeterwave tests on passive components of PLANCK-LFI

    Simonetto, A. / D'Arcangelo, O. / Figini, L. et al. | IEEE | 2004


    Zoom FFT for millimeterwave additive noise measurement

    Carter, T. / Pergande, A. / DeLisio, M. | IEEE | 2004


    Semiconductor Millimeterwave Spectroscopy

    Kania, P. / Kolesnikov, L. / Koubek, J. et al. | IEEE | 2006


    Millimeterwave monolithic integrated mixer

    Gao Baoxin / Gong Ke / Sun Yingxin et al. | IEEE | 1996