Zugriff

    Zugriff prüfen

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Characterization of microdefects and microroughness in silicon wafers by a Rayleigh-Brillouin scatte


    Beteiligte:
    Lu Taijing, (Autor:in) / Ng, S.C. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.1995


    Format / Umfang :

    167805 byte




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch




    Stress-induced transformation of microdefects in neutron irradiated Czochralski silicon

    Bak-Misiuk, J. / Londos, C. A. / Misiuk, A. et al. | British Library Online Contents | 2001


    Accumulation of Fatigue Microdefects– Entropy Interpretation

    Szafran Krzysztof / Delas Nikolaj | DOAJ | 2018

    Freier Zugriff

    Bulk Viscosity Measurements Using Coherent Rayleigh-Brillouin Scattering

    Pan, X. / Shneider, M. N. / Zhang, Z. et al. | British Library Conference Proceedings | 2004


    Bulk Viscosity Measurements Using Coherent Rayleigh-Brillouin Scattering

    Pan, Xingguo / Shneider, Mikhail / Zhang, Zhili et al. | AIAA | 2004