Defect localization in modern ICs can be extremely challenging. To address this complexity several optically based methodologies have been developed over the past decade. These techniques will be described demonstrating their utility in locating defects.


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    Titel :

    Optical tools and techniques for failure analysis of modern integrated circuits


    Beteiligte:
    Cole, E.I. (Autor:in) / Bruce, M.R. (Autor:in) / Barton, D.L. (Autor:in) / Tangyunyong, P. (Autor:in) / Bruce, V.J. (Autor:in) / Hawkins, C.F. (Autor:in) / Soden, J.M. (Autor:in) / Henderson, C.L. (Autor:in) / Ring, R.M. (Autor:in) / Chong, W.-L. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2003


    Format / Umfang :

    172481 byte





    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch




    Optical techniques for active integrated antenna circuits

    Deal, W. R. / Itoh, T. | British Library Online Contents | 1998


    Modern Analysis Tools and Techniques for RTGs

    Whiting, Christofer E. / Smith, Michael B.R. / Caillat, Thierry | Wiley | 2023