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    Titel :

    Optical Tools and Techniques for Failure Analysis of Modern Integrated Circuits


    Beteiligte:

    Kongress:

    Annual meeting; 16th, IEEE Lasers & Electro-optics Society; LEOS 2003 ; 2003 ; Tucson, AZ



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2003


    Format / Umfang :

    2 pages


    Anmerkungen:

    IEEE cat. no. 03CH37460




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Optical tools and techniques for failure analysis of modern integrated circuits

    Cole, E.I. / Bruce, M.R. / Barton, D.L. et al. | IEEE | 2003


    Optical techniques for active integrated antenna circuits

    Deal, W. R. / Itoh, T. | British Library Online Contents | 1998


    Modern Analysis Tools and Techniques for RTGs

    Whiting, Christofer E. / Smith, Michael B.R. / Caillat, Thierry | Wiley | 2023



    Computer Aided Design for Integrated Optical Circuits: Task Flow and Tools

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1997