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    Titel :

    Next generation testing tecrnique for embedded software: abstract semantics analysis


    Beteiligte:
    Hote, C. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2004


    Format / Umfang :

    471530 byte




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch



    Next Generation Testing Technique for Embedded Software: Abstract Semantics Analysis

    Hote, C. / IEEE / AIAA | British Library Conference Proceedings | 2004




    Next generation testing tools for embedded automotive applications

    Deutsch,A. / PolySpace Technologies,US | Kraftfahrwesen | 2004


    2004-01-0716 Next Generation Testing Tools for Embedded Automotive Applications

    Deutsch, A. / SAE | British Library Conference Proceedings | 2004