Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Next Generation Testing Technique for Embedded Software: Abstract Semantics Analysis


    Beteiligte:

    Kongress:

    Conference; 23RD, Digital avionics systems:; Avionics systems: transitioning to the next generation ; 2004 ; Salt Lake City, UT



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2004


    Format / Umfang :

    10A6



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch