We investigate the wavelength dependence of the catastrophic optical damage current in 980 nm lasers. Using high pressure and low temperature techniques, we find an intrinsic dependence of this threshold on wavelength.


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    Titel :

    Wavelength dependence of catastrophic optical damage threshold in 980 nm semiconductor diode lasers


    Beteiligte:
    Lock, D. (Autor:in) / Sweeney, S.J. (Autor:in) / Adams, A.R. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    2003-01-01


    Format / Umfang :

    135204 byte





    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch





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