We report an experimental study of the reflection of s- and p-polarized subpicosecond THz-radiation pulses from silicon. We propose silicon reflection switches for electron bunch length measurement via THz wake field diagnostics.


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    Titel :

    A femtosecond laser-activated silicon reflection switch for electron-beam bunch length measurements


    Beteiligte:
    Asazubi, R. (Autor:in) / Wilke, I. (Autor:in) / Zhong, H. (Autor:in) / Wang, S. (Autor:in) / Zhang, X.-C. (Autor:in) / Fisher, A. (Autor:in) / Bolton, P. (Autor:in) / Carr, R. (Autor:in) / Schlarb, H. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2004


    Format / Umfang :

    153667 byte



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch



    Femtosecond ultra-relativistic electron bunch length measurements

    Cavalieri, A. / Fritz, D. / Lee, S. et al. | IEEE | 2004


    Overview of bunch length measurements [3614-07]

    Lumpkin, A. H. | British Library Conference Proceedings | 1999


    A Smith-Purcell radiation bunch length diagnostic

    Korbly, S.E. / Shapiro, M.A. / Temkin, R.J. | IEEE | 2002


    A Smith Purcell Radiation Bunch Length Diagnostic

    Korbly, S. E. / Shapiro, M. A. / Tempkin, R. J. | British Library Conference Proceedings | 2002