A 3-baseline interferometer fourteen metrology gauges are used to monitor changes in the two baselines; calculate the length of the third. Simulation for estimating the third baseline indicates measurement capability better than 1 nm error.


    Zugriff

    Zugriff prüfen

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Metrology system for space interferometry mission system testbed 3


    Beteiligte:
    Azizi, A. (Autor:in) / Alvarez-Salazar, O. (Autor:in) / Goullioud, R. (Autor:in) / Gursel, Y. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2004


    Format / Umfang :

    377165 byte



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch



    Space interferometry mission system testbed 3: external metrology

    Alvarez-Salazar, O. S. / Azizi, A. | NTRS | 2004


    Space Interferometry Mission System testbed-3: external metrology inversion

    Azizi, Ali / Alvarez-Salazar, Oscar S. | NTRS | 2004




    Space interferometry mission system testbed 3: architecture

    Goullioud, R. / Azizi, A. / Alvarez-Salazar, O. S. | NTRS | 2004