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    Titel :

    Electric field induced SHG in PZT thin films studied using near-field scanning optical microscopy


    Beteiligte:
    Liang, H.Y. (Autor:in) / Smolyaninov, I.I. (Autor:in) / Li, J. (Autor:in) / Nagarajan, V. (Autor:in) / Ramesh, R. (Autor:in) / Davis, C.C. (Autor:in) / Lee, C.H. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    2003-01-01


    Format / Umfang :

    145588 byte



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch




    Nonoptical tipsample distance control for scanning near-field optical microscopy

    Yung-Hui Chuaug, / Chia-Jen Wang, / Huang, J.Y. et al. | IEEE | 1997


    Characterization of silicon micro-ring resonators using near-field scanning optical microscopy

    Vander Rhodes, G.H. / Goldberg, B.E. / Unlu, M.S. et al. | IEEE | 1999


    Study of optical fiber structures using atomic force microscopy and scanning near-field optical microscopy [2695-26]

    Tsai, D. P. / Chung, Y. L. / Othonos, A. et al. | British Library Conference Proceedings | 1996