In the sampling method according to an embodiment of the present invention, a first sensor provided on a work machine is used to acquire topographical information for a prescribed wide area, a candidate area having a smaller area than the wide area is selected from the wide area on the basis of the topographical information for the wide area, a movement route to a preparation position over the candidate area such that the tip of an arm provided on the work machine does not contact any obstacles is determined on the basis of the topographical information for the wide area, the tip of the arm is moved along the movement route to the preparation position, after which a second sensor provided on the tip of the arm is used to acquire topographical information for the candidate area, a sampling point is identified on the basis of the topographical information for the candidate area, and sampling is performed at the identified sampling point.

    Dans le procédé d'échantillonnage selon un mode de réalisation de la présente invention, un premier capteur disposé sur une machine de travail est utilisé pour acquérir des informations topographiques pour une zone étendue prescrite, une zone candidate ayant une aire plus petite que la zone étendue est sélectionnée à partir de la zone étendue sur la base des informations topographiques pour la zone étendue, un itinéraire de déplacement vers une position de préparation sur la zone candidate de telle sorte que la pointe d'un bras disposé sur la machine de travail n'entre pas en contact avec de quelconques obstacles est déterminé sur la base des informations topographiques pour la zone étendue, la pointe du bras est déplacée le long de l'itinéraire de déplacement vers la position de préparation, après quoi un second capteur disposé sur la pointe du bras est utilisé pour acquérir des informations topographiques pour la zone candidate, un point d'échantillonnage est identifié sur la base des informations topographiques pour la zone candidate, et un échantillonnage est effectué au niveau du point d'échantillonnage identifié.

    本発明の一態様に係るサンプリング方法は、作業機に設けられた第1センサを用いて所定の広域エリアの地形情報を取得し、広域エリアの地形情報に基づいて、広域エリアの中から広域エリアよりも面積の小さい候補エリアを選択するとともに、広域エリアの地形情報に基づいて、作業機に設けられたアームの先端部が障害物に接触することなく候補エリアの上方にあたる準備位置に至るまでの移動ルートを決定し、移動ルートに沿ってアームの先端部を準備位置にまで移動させた後、アームの先端部に設けられた第2センサを用いて候補エリアの地形情報を取得し、候補エリアの地形情報に基づいてサンプリングポイントを特定し、特定したサンプリングポイントにおいてサンプリングを行う。


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    Titel :

    SAMPLING METHOD AND SAMPLING SYSTEM


    Weitere Titelangaben:

    PROCÉDÉ D'ÉCHANTILLONNAGE ET SYSTÈME D'ÉCHANTILLONNAGE
    サンプリング方法及びサンプリングシステム


    Beteiligte:

    Erscheinungsdatum :

    2019-11-14


    Medientyp :

    Patent


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Japanisch


    Klassifikation :

    IPC:    B64G Raumfahrt , COSMONAUTICS / G06V



    SAMPLING METHOD AND SAMPLING SYSTEM

    SAKAMOTO FUMINOBU / KUROSE TOYOTOSHI | Europäisches Patentamt | 2023

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    SAKAMOTO FUMINOBU / KUROSE TOYOTOSHI | Europäisches Patentamt | 2024

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