To provide a differential capacitance probe for measuring contact resistance.SOLUTION: A differential capacitance probe 100 for measuring contact resistance includes: a frame 101; an end effector 102 extending from the frame; a first capacitive pad connected to the frame so as to at least partially surround the end effector; and a second capacitive pad 104 connected to the frame so as to be spaced in a radial direction from the first capacitive pad relative to the end effector and at least partially surround the end effector. A contact surface area of the first capacitive pad is substantially the same as the other contact surface of the second capacitive pad.SELECTED DRAWING: Figure 3A

    【課題】接触抵抗を測定するための差動容量プローブを提供する。【解決手段】接触抵抗を測定するための差動容量プローブ100であって、差動容量プローブが、フレーム101、フレームから延びるエンドエフェクタ102、少なくとも部分的にエンドエフェクタを取り囲むようにフレームに接続された第1の容量性パッド、およびエンドエフェクタに対して第1の容量性パッドから径方向に間隔を空けるように、かつ、エンドエフェクタを少なくとも部分的に取り囲むようにフレームに接続された第2の容量性パッド104を含み、第1の容量性パッドの接触表面積は、第2の容量性パッドのもう一つの接触面と実質的に同じである、差動容量プローブ。【選択図】図3A


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    Titel :

    DIFFERENTIAL CAPACITANCE PROBE FOR MEASURING CONTACT RESISTANCE


    Weitere Titelangaben:

    接触抵抗を測定するための差動容量プローブ


    Beteiligte:

    Erscheinungsdatum :

    27.07.2020


    Medientyp :

    Patent


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Japanisch


    Klassifikation :

    IPC:    G01R Messen elektrischer Größen , MEASURING ELECTRIC VARIABLES / B64F GROUND OR AIRCRAFT-CARRIER-DECK INSTALLATIONS SPECIALLY ADAPTED FOR USE IN CONNECTION WITH AIRCRAFT , Boden- oder Flugzeugträgerdeckeinrichtungen besonders ausgebildet für die Verwendung in Verbindung mit Luftfahrzeugen




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