Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Segmentierung mehrdimensionaler Messpunkte in mittels zumindest eines Sensors erfassten Daten. Erfindungsgemäß wird die Segmentierung mittels eines Clusterverfahrens durchgeführt, wobei vor der Durchführung des Clusterverfahrens für mehrere mehrdimensionale Messpunkte und/oder für zumindest einen Bereich von mehrdimensionalen Messpunkten ein Klassentyp prädiziert wird und basierend auf den prädizierten Klassentypen ein Ähnlichkeitsmaß, mittels welchem die mehrdimensionalen Messpunkte zueinander assoziiert werden, definiert wird. Das Ähnlichkeitsmaß wird in dem Clusterverfahren zur Bildung von Clustern (C) mit ähnlichen Messpunkten verwendet.
Verfahren zur Segmentierung mehrdimensionaler Messpunkte
17.06.2021
Patent
Elektronische Ressource
Deutsch
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