Verbindung von Human und Hardware in the Loop Testing verkuerzt Entwicklungszeit
Combination of human and hardware in the Loop testing reduces development time.
Automobiltech.Z. ; 111 , 10
2009
6 pages
Automobiltech.Z.;111(2009)10 ;764-769
Aufsatz (Zeitschrift)
Deutsch
Entwicklungszeit erheblich verkuerzt. Elektronik
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