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    Titel :

    Microstructural models to predict creep fatigue reliability


    Weitere Titelangaben:

    Mikrostrukturelle Modelle fuer die Voraussage der Zuverlaessigkeit gegen Ermuedung durch Kriechen.


    Beteiligte:
    Bhamidipati,V. (Autor:in) / Tryon,R. (Autor:in) / Holmes,R. (Autor:in) / VEXTEC,US

    Erscheinungsdatum :

    2007


    Format / Umfang :

    9 pages


    Anmerkungen:

    SAE-Paper;2001-01-1774;2007;Reliability and Robust Design in Automotive Engineering;SAE Spec.Publ.; SP-2119


    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch



    Microstructural Models to Predict Creep Fatigue Reliability

    Holmes, Richard / Tryon, Robert / Bhamidipati, Vikram | SAE Technical Papers | 2007


    Microstructural Models to Predict Creep Fatigue Reliability

    Bhamidipati, V. / Tryon, R. / Holmes, R. et al. | British Library Conference Proceedings | 2007


    2001-01-1774 Microstructural Models to Predict Creep Fatigue Reliability

    Bhamidipati, V. / Tryon, R. / Holmes, R. et al. | British Library Conference Proceedings | 2007


    Reliability Analysis of Creep-Fatigue Failure

    Mahadevan, S. / Mao, H. / American Institute of Aeronautics and Astronautics et al. | British Library Conference Proceedings | 2000