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    Titel :

    Microstructural Models to Predict Creep Fatigue Reliability



    Kongress:

    world congress, Society of Automotive Engineers ; 2007 ; Detroit, MI



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2007


    Format / Umfang :

    1774 pages


    Anmerkungen:

    SAE 2007-01-0100 - 2007-01-1781 held with gaps



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Microstructural Models to Predict Creep Fatigue Reliability

    Holmes, Richard / Tryon, Robert / Bhamidipati, Vikram | SAE Technical Papers | 2007


    Microstructural models to predict creep fatigue reliability

    Bhamidipati,V. / Tryon,R. / Holmes,R. et al. | Kraftfahrwesen | 2007


    2001-01-1774 Microstructural Models to Predict Creep Fatigue Reliability

    Bhamidipati, V. / Tryon, R. / Holmes, R. et al. | British Library Conference Proceedings | 2007


    Reliability Analysis of Creep-Fatigue Failure

    Mahadevan, S. / Mao, H. / American Institute of Aeronautics and Astronautics et al. | British Library Conference Proceedings | 2000