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    Titel :

    Evaluation of a method for measuring spectral emissivity at moderatetemperatures


    Autor / Urheber :

    OLSTAD, S. J., TANAKA, F., DEWITT, D. P.


    Beteiligte:
    OLSTAD, S. J. (Autor:in) / TANAKA, F. (Autor:in) / DEWITT, D. P. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    1987-01-01


    Format / Umfang :

    7 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch




    Method for Measuring High Temperature Spectral Emissivity of Nonconducting Materials

    P. E. Johnson / D. P. DeWitt / R. E. Taylor | AIAA | 1981




    Spectral emissivity of highly doped silicon

    Liebert, Curt H. / Thomas, Ralph D. | TIBKAT | 1968