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    Titel :

    Evaluation of a method for measuring spectral emissivity at moderatetemperatures


    Beteiligte:
    OLSTAD, S. (Autor:in) / TANAKA, F. (Autor:in) / DEWITT, D. (Autor:in)

    Kongress:

    20th Thermophysics Conference ; 1985 ; Williamsburg , VA , U.S.A.



    Erscheinungsdatum :

    1985-01-01



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch



    Evaluation of a method for measuring spectral emissivity at moderatetemperatures

    OLSTAD, S. J. / TANAKA, F. / DEWITT, D. P. | AIAA | 1987


    Method for Measuring High Temperature Spectral Emissivity of Nonconducting Materials

    P. E. Johnson / D. P. DeWitt / R. E. Taylor | AIAA | 1981




    Spectral emissivity of highly doped silicon

    Liebert, Curt H. / Thomas, Ralph D. | TIBKAT | 1968