Zugriff

    Zugriff prüfen

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Identification of Correlated Damage Parameters under Noise and Bias Using Bayesian Inference


    Beteiligte:
    An, Dawn (Autor:in) / Choi, Jooho (Autor:in) / Kim, Nam Ho (Autor:in)

    Kongress:

    52nd AIAA/ASME/ASCE/AHS/ASC Structures, Structural Dynamics and Materials Conference



    Erscheinungsdatum :

    2011-01-01



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch



    Identification of Correlated Damage Parameters under Noise and Bias Using Bayesian Inference

    An, D. / Choi, J. / Kim, N.H. et al. | British Library Conference Proceedings | 2011




    Bayesian Tangent Shape Model: Estimating Shape and Pose Parameters via Bayesian Inference

    Zhou, Y. / Gu, L. / Zhang, H.-J. et al. | British Library Conference Proceedings | 2003


    Temporal Phase Unwrapping Using Bayesian Inference

    Cuenca, M.C. / Hanssen, R.F. / European Space Agency | British Library Conference Proceedings | 2010