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    Titel :

    Numerical methods for the analysis of laser annealing of doped semiconductor wafers


    Beteiligte:
    KIRKPATRICK, J. (Autor:in) / GILES, JR., G. (Autor:in) / WOOD, R. (Autor:in)

    Kongress:

    15th Thermophysics Conference ; 1980 ; Snowmass , CO , U.S.A.



    Erscheinungsdatum :

    01.01.1980



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch





    SRPL Mapping of Semiconductor Laser Wafers

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1994


    Faster X-ray analysis of semiconductor wafers

    Parker, D. L. / Porter, W. A. | NTRS | 1976


    Spinner For Etching Of Semiconductor Wafers

    Lombardi, Frank | NTRS | 1989


    Laser annealing of thin semiconductor films

    Boneberg, J. / Nedelcu, J. / Bucher, E. et al. | British Library Conference Proceedings | 1994