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    Titel :

    Real-time space materials degradation monitor using ellipsometer


    Beteiligte:
    Machlab, Nassanayn (Autor:in) / Syniwicki, R (Autor:in) / Ducharme, Steven (Autor:in) / Snyder, Paul (Autor:in) / Woollam, John (Autor:in)

    Kongress:

    Space Programs and Technologies Conference ; 1995 ; Huntsville , AL , U.S.A.



    Erscheinungsdatum :

    1995-01-01



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch



    Interferometric differential phase ellipsometer

    Chou, C. / Teng, H.-K. / Guo li Taiwan da xue et al. | British Library Conference Proceedings | 2003


    Interferometric differential phase ellipsometer

    Chien Chou, / Hui-Kang Teng, | IEEE | 2003


    A heterodyne interferometric ellipsometer

    Watkins, L.R. / Hoogerland, M.D. | IEEE | 2005


    A new polarization modulated ellipsometer

    Collins, A. L. / Palmer, A. W. / Grattan, K. T. V. et al. | British Library Conference Proceedings | 1990


    Ellipsometer for measurement in ultrahigh vacuum

    Walter, H. U. / Weitzenkamp, L. A. / Peters, P. N. | NTRS | 1976