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    Titel :

    Analysis of the Silicon Carbide Boundary Layer under Passive and Active Oxidation


    Beteiligte:
    Chen, Samuel (Autor:in) / Boyd, Iain D. (Autor:in)

    Kongress:

    AIAA Aviation 2019 Forum



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2019




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch





    AIAA-2019-3261: Analysis of the Silicon Carbide Boundary Layer under Passive and Active Oxidation

    Chen, Samuel / Boyd, Iain D. | British Library Conference Proceedings | 2019


    Active and Passive Boundary Layer Tripping

    Chrusciel, G. T. / AIAA | British Library Conference Proceedings | 1997



    Ultrasonically Absorptive Silicon-Carbide Foam for Boundary-Layer Control

    Bemis, Benjamin L. / Brun, John L. / Wanstall, C. Taber et al. | AIAA | 2023