In-situ ellipsometry, in-situ raman spectroscopy, ion beam analysis, ion nanoprobe, luminescence imaging, photocurrent imaging, CulnSe2 solar cells, flexible substrate, pulsed laser deposition, ZnO thin films


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    Titel :

    Elektronische und optische Eigenschaften, in-situ-Ramanstreuung, in-situ-Ellipsometrie und Ionenstrahlanalytik von flexiblen Cu-(In, Ga)-(Se, S)-Dünnfilm-Solarzellen : Schlussbericht des BMBF-Vorhabens ; über den Zeitraum 01. August 2001 - 31. Dezember 2003 ; innerhalb des BMBF-Wachstumskerns INNOCIS "Kostengünstige, fexible CIS-Photovoltaik


    Weitere Titelangaben:

    Electronic and optical properties, in-situ ellipsometry, in-situ raman spectroscopy, and ion beam analysis of flexible Cu-(In, Ga)-(Se, S)-thin film solar cells



    Erscheinungsdatum :

    2004


    Format / Umfang :

    56 Bl


    Anmerkungen:

    Ill., graph. Darst
    Förderkennzeichen BMBF 03 WKI 09. - Verbund-Nr. 01022292. - Engl. Zsfassung u.d.T. Electronic and optical properties, in-situ ellipsometry, in-situ raman spectroscopy, and ion beam analysis of flexible Cu-(In, Ga)-(Se, S)-thin film solar cells
    Unterschiede zwischen dem gedruckten Dokument und der elektronischen Ressource können nicht ausgeschlossen werden
    Auch als elektronische Ressource vorh.


    Medientyp :

    Report


    Format :

    Print


    Sprache :

    Deutsch



    Klassifikation :

    BKL:    52.78 Oberflächentechnik, Wärmebehandlung / 33.68 Oberflächen, Dünne Schichten, Grenzflächen / 53.36 Energiedirektumwandler, elektrische Energiespeicher