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    Titel :

    Effect of 40-MeV protons on semiconductors as determined with an improved method of measuring diffusion length of minority carriers


    Beteiligte:


    Erscheinungsdatum :

    1965


    Format / Umfang :

    19 S


    Anmerkungen:

    Ill
    Langzeitarchivierung durch Technische Informationsbibliothek (TIB) / Leibniz-Informationszentrum Technik und Naturwissenschaften und Universitätsbibliothek


    Medientyp :

    Buch


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch