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    Titel :

    Extracting the parameters of two-energy-level defects in silicon wafers using machine learning


    Beteiligte:
    Wang, Sijin (Autor:in) / Dwivedi, Priya (Autor:in) / Buratti, Yoann (Autor:in) / Zhu, Yan (Autor:in) / Chin, Robert Lee (Autor:in) / Hameiri, Ziv (Autor:in)

    Kongress:

    Asia-Pacific Solar Research Conference ; 2022 ; Newcastle, New South Wales



    Erscheinungsdatum :

    2022



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch


    Schlagwörter :

    Klassifikation :

    BKL:    53.36 Energiedirektumwandler, elektrische Energiespeicher




    Fiber Polarizers using Silicon Wafers as Substrates

    IEEE / Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1995


    High-Mobility Epitaxial Silicon Wafers

    Stermer, R. L., Jr / Fripp, A. L., Jr. / Jones, A. et al. | NTRS | 1985


    Smoother Scribing of Silicon Wafers

    Danyluk, S. | NTRS | 1986


    Reciprocating Saw for Silicon Wafers

    Morrison, A. D. / Collins, E. R., Jr. | NTRS | 1985