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    Titel :

    naaiac17final00105 Comparison and characterization of the visual scan patterns of expert and cadet pilots in a VFR landing


    Beteiligte:
    Martinez, Jose (Autor:in) / Bil, Cees (Autor:in) / Dyer, Adrian G. (Autor:in) / Garcia, Jair E. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    2018



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    BKL:    55.50 Luftfahrzeugtechnik



    Visual Scan Patterns of Expert and Cadet Pilots in VFR Landing

    Diaz, Jose L. / Bil, Cees / Dyer, Adrian | AIAA | 2017



    Visual Scan Patterns of Expert and Cadet Pilots in VFR Landing (AIAA 2017-3777)

    Diaz, Jose L. / Bil, Cees / Dyer, Adrian et al. | British Library Conference Proceedings | 2017


    A study of the propensity for communicative aggressiveness in cadet pilots

    M. V. Erkhova / I. Sh. Aizatullova | DOAJ | 2024

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