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    Titel :

    Machine vision and three-dimensional imaging systems for inspection and metrology II



    Kongress:

    Machine Vision and Three-Dimensional Imaging Systems for Inspection and Metrology Conference ; 2 ; 2001 ; Newton, Mass. Machine Vision and Three-Dimensional Imaging Systems for Inspection and Metrology Conference ; 2 (Newton, Mass.) : 2001.10.29-30


    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    2002


    Format / Umfang :

    IX, 236 S


    Anmerkungen:

    Includes bibliographic references and author index
    Langzeitarchivierung durch Technische Informationsbibliothek (TIB) / Leibniz-Informationszentrum Technik und Naturwissenschaften und Universitätsbibliothek



    Medientyp :

    Konferenzband


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch



    Klassifikation :





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