Abklingprozesse der Infrarot-Lumineszenz an Störstellen in II/VI-Halbleitern
1981
102 S.
graph. Darst.
Berlin, Techn. Univ., Fachbereich 04 - Physik, Diss
2 Mikrofiches
Hochschulschrift
Mikroform
Deutsch
Querschnittsaufgabe Fernerkundung - Analyse von Störstellen, Röhricht- und Neophytenarten
HENRY – Bundesanstalt für Wasserbau (BAW) | 2012
|Kraftfahrwesen | 2012
|Kraftfahrwesen | 2015
|Materialintegrierte Sensorschicht basierend auf Quantum-Dot-Lumineszenz
Tema Archiv | 2011
|Tema Archiv | 1981