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    Titel :

    Efficacy of Raman mapping over ellipsometric spectroscopy and XRD for characterization of structurally heterogeneous PLD nc-Si thin films


    Beteiligte:
    Dey, Partha P. (Autor:in) / Kesarwani, Rahul (Autor:in) / Khare, Alika (Autor:in)

    Erschienen in:

    Optical materials ; 84 ; 221-226


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2018


    Format / Umfang :

    6 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Unbekannt


    Klassifikation :

    DDC:    535




    Ellipsometric studies of the diffusion of automic oxygen through silicon dioxide thin films

    Meyers, Grant G. / Woollam, John / Gulino, Daniel A. et al. | NTRS | 1990


    Ellipsometric studies of the diffusion of automic oxygen through silicon dioxide thin films

    MEYERS, GRANT G. / WOOLLAM, JOHN / GULINO, DANIEL A. et al. | AIAA | 1990


    Raman Spectroscopy for Carbon Based Amorphous Thin Films

    Compagnini, G. / Materials Research Society | British Library Conference Proceedings | 2005


    Ellipsometric measurements for thin-film-based sensor systems [2509-10]

    Chitaree, R. / Murphy, V. / Weir, K. et al. | British Library Conference Proceedings | 1995