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    Titel :

    Local inspection of refractive index and thickness of thick transparent layers using spectral reflectance measurements in low coherence scanning interferometry


    Beteiligte:

    Erschienen in:

    Optical materials ; 86 ; 100-105


    Erscheinungsdatum :

    2018-01-01


    Format / Umfang :

    6 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Unbekannt


    Klassifikation :

    DDC:    535




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