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    Titel :

    Three-Dimensional Quantitative Surface Topography Measurement Using Modulated-Current Based Scanning Ion Conductance Microscopy


    Beteiligte:
    Guo, Renfei (Autor:in) / Zhuang, Jian (Autor:in) / Yu, Dehong (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.2016


    Format / Umfang :

    6 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Unbekannt


    Klassifikation :

    DDC:    500



    3-D Measurement by Intensity Modulated Moire Topography

    Lu, C. / Yamaguchi, A. / Inokuchi, S. | British Library Online Contents | 1998


    Wafer topography measurement by fast optical scanning deflectometry

    Krey, S. / Peter, F. / Dumitrescu, E. et al. | IEEE | 2003


    Surface topography by wavelength scanning interferometry [3479-03]

    Yamaguchi, I. / Yamamoto, A. / Yano, M. et al. | British Library Conference Proceedings | 1998


    Clearance compensation method based on three-dimensional scanning measurement technology

    SHI LEI / HAN YE / LI FUJIA et al. | Europäisches Patentamt | 2024

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