Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Waveguide-Based Technique for Wafer-Level Measurement of Phase and Group Effective Refractive Indices


    Beteiligte:
    Melati, D. (Autor:in) / Alippi, A. (Autor:in) / Melloni, A. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.2016


    Format / Umfang :

    7 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.3692




    Measurement of thicknesses and refractive indices by Iow-coherence confocal interferometric microscopy

    Yamaguchi, I. / Fukano, T. / SPIE et al. | British Library Conference Proceedings | 1999


    Refractive indices of semiconductors from energy gaps

    Tripathy, S.K. | British Library Online Contents | 2015


    Refractive indices of semiconductors from energy gaps

    Tripathy, S.K. | British Library Online Contents | 2015


    Doped Polymer Films with High Nonlinear Refractive Indices

    IEEE / Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1995