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    Titel :

    Model-based automatic test case generation for automotive embedded software testing


    Beteiligte:
    Shin, K. W. (Autor:in) / Lim, D. J. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    2018-01-01


    Format / Umfang :

    13 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    629.2





    Automated Test Case Generation for Automotive Embedded Software Testing Using XMI-Based UML Model Transformations

    Shin, K.-W. / Kim, S.s. / Park, S.M. et al. | British Library Conference Proceedings | 2014


    Automated Test Case Generation for Automotive Embedded Software Testing Using XMI-Based UML Model Transformations

    Lim, Dong-Jin / Shin, Ki-Wook / Park, Sam Min et al. | SAE Technical Papers | 2014


    Model-Based Testing Design for Embedded Automotive Software

    Mjeda, Anila / Ryan, Kevin / McElligott, Pat et al. | SAE Technical Papers | 2009