Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Effect of Cavity Length, Strain, and Mesa Capacitance on 1.5-μm VCSELs Performance


    Beteiligte:
    Spiga, S. (Autor:in) / Schoke, D. (Autor:in) / Andrejew, A. (Autor:in) / Boehm, G. (Autor:in) / Amann, M. C. (Autor:in)

    Erschienen in:

    JOURNAL OF LIGHTWAVE TECHNOLOGY ; 35 , 15 ; 3130-3141


    Erscheinungsdatum :

    2017-01-01


    Format / Umfang :

    12 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.3692



    Reliability of direct mesa flip-chip bonded VCSELs

    Teitelbaum, M. / Goossen, K.W. | IEEE | 2004


    Polarization bistable characteristics of mesa structure 980 nm VCSELs

    Sato, Y. / Mori, T. / Yamayoshi, Y. et al. | IEEE | 2005


    Coupled cavity phenomena within MEMS-tunable long-wavelength VCSELs

    Maute, M. / Boehm, G. / Amann, M.-C. et al. | IEEE | 2005


    Coupled Cavity Phenomena within MEMS-Tunable Long-Wavelength VCSELs

    Maute, M. | British Library Conference Proceedings | 2005


    Cavity structures for low-loss oxide-confined VCSELs [3003-27]

    Choquette, K. D. / Hadley, G. R. / Chow, W. W. et al. | British Library Conference Proceedings | 1997