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    Titel :

    Line-Field Swept-Source Interferometer for Simultaneous Measurement of Thickness and Refractive Index Distribution


    Beteiligte:
    Soon-Woo, C. (Autor:in) / Gyeong, H. K. (Autor:in) / Moonju, K. (Autor:in) / Bo Sung, S. (Autor:in) / Chang-Seok, K. (Autor:in)

    Erschienen in:

    JOURNAL OF LIGHTWAVE TECHNOLOGY ; 35 , 16 ; 3584-3590


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2017


    Format / Umfang :

    7 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.3692





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    Hirai, A. / Matsumoto, H. / Guo li Taiwan da xue et al. | British Library Conference Proceedings | 2003



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    Gao, S. / Zhang, W. / Bai, Z.-Y. et al. | British Library Online Contents | 2014