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    Titel :

    Line-Field Swept-Source Interferometer for Simultaneous Measurement of Thickness and Refractive Index Distribution


    Beteiligte:
    Soon-Woo, C. (Autor:in) / Gyeong, H. K. (Autor:in) / Moonju, K. (Autor:in) / Bo Sung, S. (Autor:in) / Chang-Seok, K. (Autor:in)

    Erschienen in:

    JOURNAL OF LIGHTWAVE TECHNOLOGY ; 35 , 16 ; 3584-3590


    Erscheinungsdatum :

    2017-01-01


    Format / Umfang :

    7 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.3692





    Low-coherence tandem interferometer for measurement of group refractive index without knowledge of thickness

    Hirai, A. / Matsumoto, H. / Guo li Taiwan da xue et al. | British Library Conference Proceedings | 2003



    Low-coherence tandem interferometer for in-situ measurement of the refractive index [4416-31]

    Hirai, A. / Matsumoto, H. / Optical Society of Japan et al. | British Library Conference Proceedings | 2001