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    Titel :

    Reliability Assessment for Complicated Electronic Equipment with Virtual Samples of Accelerated Degradation Tests


    Beteiligte:
    Xu, Y. (Autor:in) / Chen, X. (Autor:in) / Sun, J. (Autor:in) / Liu, R. (Autor:in) / Fan, H. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.2013


    Format / Umfang :

    6 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Unbekannt


    Klassifikation :

    DDC:    500



    Reliability assessment method of nonlinear step-stress accelerated degradation data

    Cai, Zhongyi / Chen, Yunxiang / Zhang, Zhengmin et al. | British Library Online Contents | 2016


    Reliability assessment of aerospace electronic equipment

    Condra, L. / Bosco, C. / Deppe, R. et al. | Tema Archiv | 1999


    Reliability Evaluation of Complicated Distribution Systems

    Zhaohong, B. / Xiuli, W. / Xifan, W. | British Library Online Contents | 2000


    Research on Reliability of Accelerated Degradation Data Based on Minitab

    Cui, Zenghui / Xuan, Zhaolong / Li, Tianpeng et al. | IEEE | 2020


    Accelerated traffic tests

    Engineering Index Backfile | 1946