Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Defect detection on images using multiple reference images: solving a binary labeling problem using graph-cuts algorithm


    Beteiligte:
    Lee, J. (Autor:in) / Yoo, S.I. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    2012-01-01


    Format / Umfang :

    33014 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    535.84



    Iris segmentation in non-ideal images using graph cuts

    Pundlik, S. / Woodard, D. / Birchfield, S. | British Library Online Contents | 2010



    Effciently Solving Dynamic Markov Random Fields Using Graph Cuts

    Kohli, P. / Torr, P. / IEEE | British Library Conference Proceedings | 2005


    A new framework for approximate labeling via graph cuts

    Komodakis, N. / Tziritas, G. | IEEE | 2005


    A New Framework for Approximate Labeling via Graph Cuts

    Komodakis, N. / Tziritas, G. / IEEE | British Library Conference Proceedings | 2005