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    Titel :

    Defect detection on images using multiple reference images: solving a binary labeling problem using graph-cuts algorithm


    Beteiligte:
    Lee, J. (Autor:in) / Yoo, S.I. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.2012


    Format / Umfang :

    33014 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    535.84



    Iris segmentation in non-ideal images using graph cuts

    Pundlik, S. / Woodard, D. / Birchfield, S. | British Library Online Contents | 2010



    Effciently Solving Dynamic Markov Random Fields Using Graph Cuts

    Kohli, P. / Torr, P. / IEEE | British Library Conference Proceedings | 2005


    A new framework for approximate labeling via graph cuts

    Komodakis, N. / Tziritas, G. | IEEE | 2005


    Bayesian Adaptive Oil Spill Segmentation of SAR Images via Graph Cuts

    Pelizzari, S. / Dias, J. M. B. / European Space Agency | British Library Conference Proceedings | 2006