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    Titel :

    The meaning and measure of lateral resolution for surface profiling interferometers


    Beteiligte:
    de Groot, P. (Autor:in) / de Lega, X.C. (Autor:in) / Sykora, D. (Autor:in) / Deck, L. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.2012


    Format / Umfang :

    4 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.36



    interferometers measure distance with light

    Peach, L. A. | British Library Online Contents | 1997


    Interferometers

    Engineering Index Backfile | 1947


    Femtosecond Interferometers

    Misawa, K. / Kobayashi, T. | IEEE | 1997


    Ground-Based Interferometers

    Rüdiger, A. | Online Contents | 2000


    Coupled Spiral Interferometers

    Guo, W. / Digonnet, M.J.F. | British Library Online Contents | 2014